AFM/STM

AFM es una técnica opto-mecánica capaz de detectar fuerzas del orden de los piconewtons. Al barrer una muestra, es capaz de registrar continuamente sutopografía mediante una sonda o punta afilada de forma piramidal o cónica. La sonda va acoplada a un listón o palanca microscópica muy flexible de sólo unos 200 µm. El microscopio de fuerza atómica ha sido esencial en el desarrollo de la nanotecnología, para la caracterización y visualización de muestras a dimensiones nanométricas (1x10 − 9m = 1nm).

Microscopía de Tunelamiento es una técnica que permite la investigación de superficies eléctricamente conductoras a nivel atómico.

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